Квазіоптична (суб-терагерцовв) установка для вимірювання показників заломлення оптичних матеріалів

Рис. 1. Cхема квазіоптичної установки (a) для вимірювання показників заломлення оптичних матеріалів та її загальний вигляд; заломлення електромагнітної хвилі на зразку (sinφ/sinφ′= n) (b); схематичне представлення зсуву інтерферометричної картини при повороті зразка від початкової (φ = φ₁) кутової позиції до кінцевої (φ = φ₂) (c).

© Науково-Навчальний Центр Інноваційних Технологій та НаноІнженерії

Адреса: Україна, Львів, вул. Кн. Романа, 5/620

Тел/Факс: +38(032)258-30-82, email: anatolii.s.andrushchak@lpnu.ua