Науково-Навчальний Центр Інноваційних Технологій
та НаноІнженеріїї (ННЦ ІТНІ)
Патенти та авторські свідоцтва
2020
- Андрущак Н.А., Андрущак А.С. Пристрій для вимірювання діелектричної проникливості кристалічних та нанокристалічних матеріалів в діапазоні надвисоких частот. Патент України на корисну модель № 140726, 10.03.2020 року, Бюл. 5. (заявн. Національний університет "Львівська політехніка". – u201908509; заявл. 17.07.2019.)
2019
- Андрущак А.С., Бурий О.А., Андрущак Н.А. Спосіб пошуку глобального максимуму електрооптичного ефекту в анізотропних матеріалах для виготовлення чутливого елемента електрооптичної комірки. Патент України на корисну модель №134377 від 10.05.2019, Бюл. №9, МПК G01N 21/41 (Заявка на корисну модель за №u 2018 12747 від 21.12.2018)
2014
- Andrushchak A.S., Kityk A.V., Rusek A., Buryy О. А., Demyanyshyn N.M., Yurkevych O.V. Manufacturing method of most efficient sensitive element from crystalline material for electro-optic cell. Patent of Poland (to be published)
- Рішення про видачу деклараційного патенту на корисну модель за заявкою №u2014 00822 від 29.01.2014, МПК G01N 22/00. Векторно-аналізаторний інтерференційний пристрій вимірювання діелектричної проникливості матеріалів / Ящишин Є.М., Андрущак Н.А., Годжішевський К., Кушнір О.С., Андрущак А.С.
2013
- Андрущак А.С., Бурий О.А., Демянишин Н.М., Юркевич О.В., Убізський С.Б. Спосіб виготовлення кристалічного зразка для Брегівської комірки світла. Патент України на корисну модель №83390 від 10.09.2013, Бюл. №17.
(Andrushchak A.S., Buryy O.A., Demyanyshyn N.M. et.al. Method for manufacturing the crystalline specimen for Bragg cell // Patent Ukraine No. 83390 from 10.09.2013, Bul. No.17)
2012
- Демянишин Н.М., Мицик Б.Г., Андрущак А.С. Спосіб виготовлення чутливого елементу з анізотропного кристалічного матеріалу для електрооптичної або фотопружної комірки. Патент України на корисну модель №73511 від 25.09.2012, Бюл. №18. (Demyanyshyn N.M., Mytsyk B.G., Andrushchak A.S. Method for manufacturing sensitive element from an anisotropic crystalline material for electrooptical or photoelastical cell // Patent Ukraine No. 73511 from 25.09.2012, Bul. No.18)
- Андрущак Н.А., Бобицький Я.В., Андрущак А.С. Cпосіб вимірювання показника заломлення оптичних матеріалів із непаралельними гранями досліджуваних зразків. Патент України на корисну модель №69582 від 10.05.2012, Бюл. №9. (Andrushchak N.A., Bobitskii Ya.V, Andrushchak A.S. A method of measuring the refractive index of optical materials with non-parallel sides of samples // Patent of Ukraine № 69582 from 10.05.2012, Bul. No. 9.)
2009
- Мицик Б.Г., Андрущак А.С., Кость Я.П., Юркевич О.В. Поляризаційно-оптичний пристрій визначення індукованої зміни різниці ходу в оптичних матеріалах. Патент України на корисну модель №39218 від 10.02.2009, Бюл. №3.
(Mytsyk B.G., Andrushchak A.S., Kost’ Ya.P., Yurkevych O.V. Polarization-optical device for determination of induced optical path in materials. Patent Ukraine No.16251/1 from 27.11.2008.)
- Андрущак А.С., Тибінка Б.В., Андрущак Н.А., Думич С.С. Інтерферометрично-поворотний спосіб вимірювання показника заломлення оптичних матеріалів. Патент України на корисну модель №39155 від 10.02.2009, Бюл. №3.
(Andrushchak A.S., Tybinka B.V., Andrushchak N.A., Dumych S.S. Interferometric-rotating method for refractive index determination of optical materials. Patent Ukraine No. 39155 від 10.02.2009, Бюл. №3)
2008
- Андрущак А. С., Сиротинський О. І., Андрущак Н.А., Ящишин Є.М. Інтерферометрично-поворотний пристрій для вимірювання показника заломлення ізотропних та анізотропних матеріалів в діапазонах міліметрових та сантиметрових довжин хвиль. Патент України на корисну модель №35224 від 10.09.2008, Бюл. №17.
(Andrushchak A.S., Syrotynskyj O.I., Andrushchak N.A., Yashchyshyn Ye.M. Interferometric-rotating device for refractive index determination of isotropic and anisotropic materials in millimeter and centimeter length waves. Patent Ukraine No. 35224 from 10.09.2008, Bul. No.17.)
2006
- Андрущак А.С., Островський І.П., Тибінка Б.В. Спосіб визначення показника заломлення оптичних матеріалів. Патент України на корисну модель №17929 від 16.10.2006. Бюл. №10.
(Andrushchak A.S., Ostrovskij I.P., Tybinka B.V. The refractive index determination method for optical materials. Patent Ukraine No.17929 from 16.10.2006).
1998
- Андрущак А.С. Двухлучевой интерферометр для измерения показателя преломления изотропных и анизотропных материалов. Патент Российской Федерации №2102700 . - Опубл. БИ №2. – 1998.
(A.S. Andrushchak. Two-beam interferometer for refractive indices measurement of the isotropic and anisotropic materials. Patent Russia No.2102700, 1998.)
1993
- А.с. СССР №1796936. Фотоупругий преобразователь давления // Андрущак А.С., Мыцык Б.Г., Осыка Б.В. Опубл. БИ №7. 1993.
(CC USSR №1796936. Photoelastic pressure transducer // Andrushchak A.S., Mytsyk B.G., Osyka B.V. 1993.)
1992
- Андрущак А.С., Мыцык Б.Г., Осыка Б.В. Оптический преобразователь давления и температуры // Положит. реш. ВНИИГПЭ №4724898/10 от 4.01.1992.
(Andrushchak A.S., Mytsyk B.G., Osyka B.V. Optical pressure transducer and temperature / / put. dec. VNIIGPE №4724898/10 of 01.04.1992. )
- А.с.СССР №1716344. Устройство для измерения давления //Мыцык Б.Г., Осыка Б.В., Андрущак А.С. Опубл. БИ №8.1992.
(СС USSR №1716344. Pressure-measuring device // Mytsyk B.G., Osyka B.V., Andrushchak A.S. 1992.)
1991
- А.с. СССР №1654700. Устройство для измерения давления // Андрущак А.С., Мыцык Б.Г., Осыка Б.В. Опубл. БИ №21. 1991.
(CC USSR №1654700. Pressure-measuring device // Andrushchak A.S., Mytsyk B.G., Osyka B.V. 1991.)
1990
- А.с. СССР №1545121. Дифференциальный измеритель давления //Осыка Б.В., Мыцык Б.Г., Андрущак А.С., Землинский Р.Л. Опубл. БИ №7. 1990.
(CC USSR №1545121. Differential pressure gauge // Osyka B.V., Mytsyk B.G., Andrushchak A.S., Zemlinsky R.L. 1990.)
1988
- А.с. СССР №1542206. Опто-електронний перетворювач зовнішніх впливів (тиску, температури, електричного чи магнітного полів) // Андрущак А.С., Карнаух Б.М., Мыцык Б.Г., Лісовський І.М., 1988.
(CC USSR №1542206. Opto-electronic converter of external factors (pressure, temperature, electric or magnetic fields) // Andrushchak A.S., Karnaukh B.M., Mytsyk B.G., Lisowski I.M. 1988.)